제품 소개실험실 테스트 기계

칩 인식 시험 기계 SATA 지적 시험 장비

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중국 Hai Da Labtester 인증
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칩 인식 시험 기계 SATA 지적 시험 장비

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큰 이미지 :  칩 인식 시험 기계 SATA 지적 시험 장비

제품 상세 정보:
원래 장소: 중국
브랜드 이름: Haida
인증: ISO,CE
모델 번호: HD-6-SATA
결제 및 배송 조건:
최소 주문 수량: 1개 세트
가격: 5000-12000 USD
포장 세부 사항: 강한 나무 상자
배달 시간: 명령 8 일 뒤
지불 조건: L/C (신용장), 인수 인도, D/P (지급도 조건), 전신환, 웨스턴 유니온, 머니그램
공급 능력: 150개 세트 / 달

칩 인식 시험 기계 SATA 지적 시험 장비

설명
제어: 소프트웨어를 사용하는 모든 테스트의 지능적 제어 온도 범위: +180 급에 대한 -70 도
주요 하드웨어 구성 요소: 테스트 PC 테스트 메인보드 테스트의 종류: 비정상이 강국 고장 시험과 장기간 시험

칩 인식 테스트 기계 SATA 지능형 테스트 장비


주요 특징들:

  1. SATA 제품 테스트 지원

  2. SATA에 대해 생산된 테스트 조각 수의 사용자 지정 지원(예: 96개, 124개, 196개, 256개 등)

  3. 6, 12, 18 등의 마이크로 및 소규모 사용자 정의 개발 지원

  4. 지원(-70도 ~ +180도) 테스트

  5. 비정상적인 정전 테스트 및 노화 테스트 지원

  6. 자동 온도 제어 테스트 지원

  7. 소프트웨어를 사용하여 모든 테스트의 지능형 제어 지원

  8. 테스트 소프트웨어의 사용자 정의 지원

  9. 챔버의 공기 속도 및 온도 균등화 지원;

  10. 급격한 온도 상승 및 하강 제어 지원

  11. SATA 에이징 맞춤형 개발 지원

  12. 네트워크 제어를 지원하여 외부에서 테스트를 제어하고 테스트 결과를 볼 수 있습니다.

  13. APP 원격 제어 테스트 지원;


기계의 주요 구성 요소:

  1. 전체 테스트 시스템은 고온 및 저온 챔버, TEST PC 마더보드, BASEBOARD 및 PM 보드, ESD 테스트 고정 장치, 전송 데이터 CABLE 케이블, ESD 전면 및 후면 절연 섬유 패널, 터치 스크린 작동 플랫폼 메인프레임, 맞춤형 밀봉 플러그, ESD로 구성됩니다. 전면 PC 마더보드 스탠드, 특수 테스트 전원 공급 장치, FPGA 보드 등


주요 하드웨어 구성 요소:

  1. 테스트 PC 테스트 마더보드;
  2. 베이스보드 보드;
  3. 완전한 기계 회로 및 전원 제어 구성 요소;
  4. 정전기 방지 제품용 ESD 테스트 픽스처;
  5. ESD 정전기 방지 전면 및 후면 절연 섬유 시트;
  6. 고온 및 저온 저항을 위한 실리콘 씰;
  7. ESD 정전기 방지 전면 컴퓨터 마더보드 랙;
  8. 전송 데이터 CABLE 케이블;
  9. 특수 테스트 전원 공급 장치;
  10. 기가비트 스위치;
  11. 콘솔 호스트.


소프트웨어 및 하드웨어 섹션의 주요 구성 요소:

  1. 테스트 PC: 마더보드, CPU, HDD, 하드 디스크 및 전원 공급 장치를 포함한 1세트.테스트 PC 하드웨어는 주로 다음 PCT, BIT, MDT 및 FDS에 따라 구성됩니다.
  2. 콘솔: 전체 테스트 PC 작업을 제어할 수 있는 고품질 터치 PC 호스트 세트, 테스트용 제어 인터페이스, 테스트 명령 및 구성 스크립트 전송에 사용되며 테스트의 명령 센터입니다.


SSD SATA 지능형 하드웨어 및 소프트웨어 통합 테스트 시스템에 대한 설명:

  1. PCIe SSD 지능형 테스트 시스템은 Win10 운영 체제 플랫폼을 기반으로 합니다.개방형 스크립팅 모드를 통해 고온 및 저온 챔버의 온도와 PCIE 제품의 테스트 항목을 마음대로 수정할 수 있으며 LINUX 시스템과 로드 오일러를 통해 데이터를 전송하여 원 클릭 작업을 수행할 수 있습니다. , 네트워크 제어, 노동력 절약, 지능형 데이터 관리 및 테스트 결과 영구 보존.
  2. 하드웨어, 소프트웨어 및 메커니즘 설계를 포함하여 SSDPCIE의 신뢰성과 장기 안정성을 위해 설계되었으며, 목표는 테스트를 가능한 한 자동화하고, 테스트 구성 항목을 보다 유연하게 만들고, 사용 가능한 테스트 채널을 늘리고, 비용을 절감하는 것입니다. 공간.


시스템 기능

  1. PCBA 및 고정 장치는 PC 보드가 몇 개에서 수십 개 있는 맞춤형 챔버에 보관됩니다(챔버의 크기, SSD 검증을 위한 작은 챔버 및 SSD 생산을 위한 큰 챔버에 따라 다름).이는 공간을 절약하고 테스트할 보드 수를 늘립니다(여러 세트를 쉽게 설정할 수 있음).
  2. 하나의 PC 마더보드에 6개의 SATA SSD를 동시에 연결하여 테스트할 수 있으며 SATA2.0 및 SATA3.0 유형 SSD를 지원합니다.
  3. 사용자 지정 가능한 Linux 및 Windows 테스트 소프트웨어, 테스트 콘텐츠는 하나 이상의 스크립트 파일로 구성할 수 있습니다.각종 정전 테스트, Burn-In-Test, 소비전력 체크 테스트 등을 지원합니다.
  4. Windows PC는 Ether-net을 통해 여러 테스트 시스템 PC에 연결할 수 있으며 Windows 측의 스크립트 편집을 사용하여 챔버의 온도를 자동으로 제어하고 여러 테스트 항목을 수행할 수 있습니다.
  5. SSD 전력 소비 측정 및 확인 지원.
  6. UART 포트를 통해 테스트 중인 각 SSD에서 보낸 모든 메시지를 수집하는 UART 로그 기능을 지원합니다(SSD 설계는 특정 핀 골드 핑거에 대한 UART 신호 연결을 지원해야 함).
  7. 맞춤형 Linux 테스트 소프트웨어는 USB 인터페이스를 통해 보드에 연결됩니다.


파워 사이클링 테스트:

  1. 이 테스트의 주요 목적은 SPOR이 제대로 작동하는지 확인하는 것입니다.여기에는 일반적으로 다음과 같은 전원 차단 테스트가 포함됩니다.
  2. 모든 SSD 쓰기 명령이 완료된 후 PC는 즉시 대기 명령을 내린 다음 전원을 끕니다.이것은 NOPLP CAP SSD에 사용됩니다.
  3. 모든 SSDwrite 명령이 완료되면 PC의 전원이 즉시 꺼집니다.다시 전원을 켠 후 마지막 정전 전에 기록된 모든 데이터를 비교해야 합니다.
  4. (SPOR) writecommand가 진행 중인 동안 전원을 끕니다.다시 전원을 켠 후 마지막 정전 전에 기록된 모든 데이터를 비교해야 합니다.
  5. Write SSD에서 사용하는 프로그램 실행 스레드는 카운트다운 스레드와 관련이 없으므로 임의의 전원 꺼짐이 보장됩니다.
  6. 소비 전력 테스트.
  7. 읽기, 쓰기 및 유휴 상태에서 전력 소비를 테스트하여 전력 소모가 많은 SSD를 선별합니다.
  8. 성능 검사.
  9. 비정상적인 SSD를 걸러내기 위해 읽기 및 쓰기 성능을 테스트합니다.
  10. 번인 테스트.
  11. Windows Burn-In-Test LBA Mode 테스트와 유사하게 7가지 패턴을 사용할 수 있습니다.
4바이트, 이 LBA의 주소
504바이트, 할당된 데이터 패턴
4바이트, 타임스탬프

 

테스트 PC 설명:

  1. 테스트 PC는 주로 SSD 전원 손실, 대량 읽기/쓰기 비교, 전체 디스크 읽기/쓰기, 지정된 패턴이 있는 미디어의 에이징 테스트, 새로운 불량 블록 통계 및 프로토콜 테스트 등을 테스트하는 데 사용됩니다. 테스트 PCT는 주로 다음과 같이 나뉩니다. 카테고리: PCT, BIT, MDT 및 FDS.
  2. PCT(Power Cycling Test): 다양한 패턴의 비정상 전력 손실 테스트, 전력 손실 처리 및 SSD 알고리즘 재구성 테스트, 비정상 전력 손실 시 데이터 무결성 검증.
  3. BIT(Burn-In Test): 다양한 패턴이 순차적으로 또는 무작위로 읽히고 쓰여지는지, 다양한 패턴이 미디어에 미치는 영향을 검증합니다.
  4. MDT(Multi-Drive Test): SSD가 ATA1-8 사양의 명령을 지원하는지 확인하고 지원되는 명령을 SSD에 전송하고 결과에 오류가 없는지 확인합니다.
  5. 결과는 모든 문제에 대해 확인됩니다.
  6. FDS(전체 드라이브 스캔): 매핑 테이블이 올바른지 확인하기 위해 SSD에서 전체 드라이브 읽기 및 쓰기 작업을 수행합니다.


테스트 PC 상세 기능:

  1. PCT 파워 사이클링 테스트
  1. 다양한 패턴의 구성;
  2. 읽기/쓰기 데이터 크기 구성
  3. 순차 대 임의 읽기/쓰기 비교 구성
  4. 비정상적인 전원 차단 대 정상적인 전원 차단 데이터 무결성의 검증;
  5. 전원 켜기 및 전원 끄기 시간을 제어하기 위한 스크립팅;
  6. LBA에 대한 데이터 읽기/쓰기 작업 지정
  7. 전원 차단 처리 및 재구성을 위한 SSD 알고리즘 테스트
  8. UPS 안정성 및 용량성 부하 수요 값 테스트
  9. 디스크 부팅 시간 테스트
  10. 제품 전원 관리 기능의 안정성 테스트
  11. 테스트 디스크의 UPS 노화 테스트
  12. 고온 및 저온에서의 납땜을 위한 보드 레벨 전자 부품 테스트
  13. 시장에서 SSD 제품의 정전 보호를 검증하는 데 사용할 수 있는 가능성
  14. 다양한 마더보드와의 SSD 호환성 검증;
  15. 트림 확인;
  16. 테스트 로그 및 정기 업로드 자동 저장
  1. BIT 번인 테스트
  1. 다양한 패턴에 대한 순차 읽기/쓰기 일치 및 성능 검증
  2. 다양한 Patten에 대한 무작위 읽기/쓰기 비교 및 ​​성능 검증;
  3. 다양한 패턴이 미디어에 미치는 영향에 대한 통계
  4. 다양한 Patten 제품의 에이징 테스트;
  5. 모든 패턴의 전체 및 자동 테스트
  6. 섹터 수 및 패턴을 스크립팅할 수 있습니다.
  7. 읽기/쓰기 비교 검증을 위한 테스트 시간을 설정할 수 있습니다.
  8. 테스트 중 새로운 불량 블록 계산
  9. 제품의 전체 기능을 테스트하려면 프레임 크기를 지정하십시오.
  10. DDR, 플래시 및 인터페이스 간의 데이터 경로 확인
  11. SSD 임의 읽기/쓰기 성능 안정성 검증
  12. 테스트 로그를 자동으로 저장하고 정기적으로 업로드합니다.
  1. MDT 멀티 드라이브 테스트
  1. 구성 가능한 섹터 번호;
  2. LBA28 및 LBA48은 구성 가능합니다.
  3. 제품 인터페이스 프로토콜의 호환성 확인
  4. 프로토콜 및 해당 통계에 지정된 명령에 대한 제품 지원 확인
  5. 제품에 대한 관련 테스트를 수행하기 위한 명령 지정 가능성
  6. DATA 명령에 대한 읽기/쓰기 작업 확인 및 데이터 비교;
  7. No-Data 명령 지원 확인
  8. 테스트 로그 및 정기 업로드 자동 저장
  1. FDS 전체 드라이브 스캔
  1. 디스크 매핑 테이블의 정확성을 확인하고 비교 작업을 수행하기 위한 전체 디스크 읽기 및 쓰기 작업
  2. 패턴 및 섹터 번호는 구성 가능합니다.
  3. 읽기/쓰기 작업을 위한 구성 가능한 타이밍
  4. 불량 블록 및 약한 블록에 대한 플래시 스크리닝
  5. 모든 플래시 블록에 대한 DDR 검증
  6. SSD 알고리즘 매핑 테이블이 올바른지 확인하십시오.
  7. 테스트 로그 자동 저장 및 정기적 업로드


회사 소개:

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연락처 세부 사항
Hai Da Labtester

담당자: Kelly

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