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제품 상세 정보:
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| 작동 온도 범위: | -30oC~150oC | 보존온도범위: | -20oC~60oC |
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| 작동 습도 범위: | 45%~75% | 장비 사이즈: | W400×H510×D520mm |
플래시 메모리 칩 지능형 테스트 시스템
제품 설명:
제품 사양:
기술 사양:
| 물리적 특성 | |
| 장비 크기 | W400×H510×D520mm |
| 전원 공급 방식 | 교류 |
| 작동 전압 범위 | AC(220±10%)V 단상 2선 + 보호접지 |
| 정상적인 작동 전력 소비 | 2KW |
| 작동 온도 범위 | -30ºC~150ºC |
| 보관 온도 범위 | -20ºC~60ºC |
| 작동 습도 범위 | 45%~75% |
| 시스템 성능 | |
| 동시에 테스트할 수 있는 입자 수 | 1~8개 |
| 테스트를 위해 지원되는 플래시 브랜드 | Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, Sandisk 등의 SLC, MLC, TLC, Sandisk 등, QLC type NAND Flash 칩 입자(범위 확장 중) |
| 지원되는 패키지 크기 | BGA152, BGA132(맞춤 확장 가능) |
| 지원되는 플래시 프로토콜 유형 | ONFI/토글 인터페이스 입자 |
| 지원되는 전압 | 하드웨어 지원 V1.2, V1.8 옵션 |
| 지원되는 전압 풀오프 범위 | 소프트웨어 지원 미세 조정 가능 vcc2.3~3.6 vccq1.2 1.15~1.25 vccq1.8 1.70~1.95 |
| 선택적 테스트 범위 지원 | 시작 블록 수, 블록 간 간격, 주기 수, 테스트 시간 등에 대한 개별 설정 |
| 지원 패턴 | 모두 0, 모두 1, 모두 5, 의사 난수, 바둑판 그리드, 워드라인 난수 등 |
| 테스트 명령 유형 지원 | 플래시 메모리 정보 검사 플래시 메모리 성능 테스트 수명 테스트 및 예측 품질 등급 분류 데이터 간섭 테스트 데이터 보존 테스트 읽기 재시도 기능 수명 테스트 및 예측 ECC 커스터마이징 |
| 병렬 테스트 속도 | 수명이 긴 웰링턴 펠렛 기본 테스트의 예: 균형 모드: 128GB *8 펠릿 약.1 시간 전체 모드: 약 128GB*8 펠릿2시간 고속 모드: 약 128GB*8 펠릿20 분 |
| 지능형 테스트 모듈 | 기본 테스트 실험적 테스트 고급 테스트 |
우리 회사 소개:
HAIDA INTERNATIONAL은 24년 동안 다양한 종류의 테스트 장비를 제조하는 전문 제조업체입니다.HAIDA 제품은 종이 제품, 포장, 잉크 인쇄, 접착 테이프, 가방, 신발, 가죽 제품, 환경, 장난감, 유아 용품, 하드웨어, 전자 제품, 플라스틱 제품, 고무 제품 및 기타 산업 분야에서 널리 사용되며 모든 과학 분야에 적용 가능합니다. 연구 단위, 품질 검사 기관 및 학술 분야.
담당자: Kelly
